技術原理
與常用的化學分析方法不同，近紅外光譜分析法是一種間接分析技術，是用統計的方法在樣品待測屬性值與近紅外光譜數據之間建立一個關聯模型(或稱校正模型，Calibration Model)。近紅外光譜法是利用含有氫基團(X-H，X為：C，O，N，S 等)化學鍵(X-H)伸縮振動倍頻和合頻，在近紅外區的吸收光譜，通過選擇適當的化學計量學多元校正方法，把校正樣品的近紅外吸收光譜與其成分濃度或性質數據進行關聯，建立校正樣品吸收光譜與其成分濃度或性質之間的關系(校正模型)。在進行未知樣品預測時，應用已建好的校正模型和未知樣品的吸收光譜，就可定量預測其成分濃度或性質。
應用
1) 固體(如散裝貨物 ，粉末 ，紙張或紡織品)
2) 流體(例如液體 ，懸浮液 ，擴散和粘性介質)
3) 氣體(如氣溶膠或煙霧)
4) 非接觸式探頭用于遠距離測量的反射探頭( 傳送帶、網狀應用等等 )
5) 接觸式探頭用于近距離或與樣品直接接觸( 管道，滑槽，漏斗等 )測量
6) 青貯玉米檢測
7) 飼料檢測
8) 食品
9) 制藥
10) 工業在線質控
11) 產品篩選(例如按照顆粒大小分類，或按照成分不同進行分類)
12) 膜層厚度測量
技術規格
1) 集成 20W 鎢鹵素光源用于樣品照射
2) SMA 905 光纖連接
3) 工業防護等級 IP64
4) 帶藍寶石窗的不銹鋼外殼(僅接觸式探頭)
5) 配置可滿足食品行業通行法規或防爆認證(僅接觸式探頭)
6) 適用的測量距離從 150 毫米到 600 毫米不等(非接觸式探頭)
7) 通過光源和傳感器單元的組合，適用的測量距離從0 到 50毫米不等(接觸式探頭)
